高速串行互連分析

測量挑戰(zhàn)

隨著數(shù)字系統(tǒng)的數(shù)據(jù)速率不斷提高，互連的信號完整性對系統(tǒng)性能的影響也日益擴大。物理層元器件例如印刷電路板走線、連接器、電纜和C封裝的影響不能再被忽視。因此，快速精確的時域和頻域互連性能分析成為確保系統(tǒng)性能可靠性的關鍵。由于對多個測試系統(tǒng)進行管理并非易事，所以能夠全面表征各種高速數(shù)字器件的單一測試系統(tǒng)就成為測試人員的首選工具。

是德科技解決方案

N1930B物理層測試系統(tǒng)（PLTS）

-  自動夾具移除（AFR）可對通道路徑中的不必要結構進行精確簡單的誤差校正和去嵌入

-  通道仿真器提供用戶定義的預加重和均衡設置，以進行真正的通道分析

-  MATLAB接口允許定制和自動執(zhí)行測試，使測試計劃開發(fā)時間縮短一半

-  表征報告詳細介紹了被測器件所有的關鍵性能參數(shù)和特定的測試系統(tǒng)信息，以獲得重要的技術測試計劃數(shù)據(jù)

E5071C ENA 選件TDR

-  與傳統(tǒng)TDR示波器相似的外觀和風格，進行簡單直觀的操作

-  同時在時域和頻域中進行分析，輕松定位損耗、反射和串擾來源

-  儀器的內部保護電路提供更強的防靜電放電（ESD）能力

-  為您的鏈路確定理想的加重和均衡設置

-  通過抖動注入仿真實際信號

-  分析有源器件在實際操作條件下（Hot TDR）的阻抗，以量化多重反射效應